缺陷類(lèi)方法主要包括：普通缺陷和字符缺陷。
普通缺陷主要指區(qū)域內(nèi)或區(qū)域邊緣上缺陷檢測(cè)，字符缺陷主要指各類(lèi)字符印刷缺陷檢測(cè)。
相關(guān)的功能有：固定灰度、經(jīng)典灰度、圓毛刺檢測(cè)、輪廓缺陷檢測(cè)、字符檢測(cè)B、灰度差分、分區(qū)固定灰度污漬檢測(cè)、固定灰度環(huán)形ROI、經(jīng)典灰度污漬環(huán)形ROI 、局部二值化污漬檢測(cè)、復(fù)雜表面劃痕檢測(cè)、魯棒直線輪廓缺陷檢測(cè)、多邊形固定灰度污漬檢測(cè)、多邊形經(jīng)典灰度污漬檢測(cè)、非印字表面檢測(cè) 、分類(lèi)局部二值化污漬檢測(cè) |
